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  • 25

    2018-6

    顆粒堆積密度儀相關(guān)介紹

    粉體在日常生活和工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)種的應用非常廣泛。在不同的應用領(lǐng)域中,對粉體特性的要求各不相同,從而形成了表征粉體特性的不同參數(shù)。堆積密度就是衡量粉體產(chǎn)品質(zhì)量的參數(shù)之一,同時也是設(shè)計粉體產(chǎn)品倉庫、建造粉體運輸、輸送設(shè)備的參考依據(jù)。堆積密度是把粉塵或者粉料自由填充于某一容器中,在剛填充完成后所測得的單位體積質(zhì)量。床料的堆積密度ρb與床料密度ρp之間的關(guān)系是ρb=ρp(1-ε)ε為物料靜止時的空隙率,ρb為堆積密度,需要測量,ρp為真實密度。顆粒堆積密度儀依據(jù)GB/T3603-83普通...
  • 15

    2018-6

    塑料流動性的影響的因素

    塑料流動性是指在成型過程中塑料熔體(或分散體)在一定的溫度與壓力作用下充填模腔的能力。塑料的成型加工大多是利用塑料在粘流狀態(tài)下的變形與流動實現(xiàn)的。流動性的好壞,在很大程度上影響著成型工藝的許多參數(shù),如成型溫度、壓力、模具澆注系統(tǒng)的尺寸及其它結(jié)構(gòu)參數(shù)。流動性好,塑料熔體容易充模,能獲得大型薄壁和復雜的塑件。但流動性太好,又會出現(xiàn)溢料、塑料物理力學性能差的現(xiàn)象。流動性不好,成型大型、薄壁和復雜的塑件時會充填不滿、缺料。另外,不同的成型方法對流動性大小要求也不一樣。在決定零件大小與...
  • 13

    2018-6

    四探針電阻率測試儀的探頭該如何選擇

    四探針電阻率測試儀的探頭該如何選擇?四探針電阻率測試儀根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。四探針電阻率測試儀具有測量...
  • 7

    2018-5

    粉末流動性測試儀具備高精度自動化控制技術(shù)

    粉末流動性測試儀具備高精度自動化控制技術(shù);可以測試粉末、粉體和顆粒之流動性、松裝密度、堆積密度、體積密度和堆密度參數(shù);當測試流動性時,自動開啟控制閥門,自動計時和流完自動停止計時;當進行粉末和顆粒密度測試時,無需另購稱重天平,自動稱重并記錄測試數(shù)據(jù),由液晶顯示并自動計算密度值;自動通過先進的測控技術(shù),以減少傳統(tǒng)的手工堵塞方式帶來的測試誤差和秒表計時誤差;并配備多規(guī)格可轉(zhuǎn)換漏斗以滿足不同密度測試對漏斗之要求,對粉末性狀分析和產(chǎn)品質(zhì)量管控、配比都有很好的提升從而幫助企業(yè)降低生產(chǎn)成...
  • 30

    2018-3

    松裝密度測定儀的使用步驟

    松裝密度是粉末多種性能的綜合體現(xiàn),對粉末冶金、機械零件生產(chǎn)工藝的穩(wěn)定,以及產(chǎn)品質(zhì)量的控制都是很重要的,也是模具設(shè)計的依據(jù)。影響粉末松裝密度的因素很多,如粉末顆粒形狀、尺寸、表面粗糙度及粒度分布等。通常這些因素因粉末的制取方法及其工藝條件的不同而有明顯差別。一般地說,粉末松裝密度隨顆粒尺寸的減小、顆粒非球狀系數(shù)的增大以及表面粗糙度的增加而減小。松裝密度測定儀適用于粉塵堆積密度的測定。松裝密度測定儀的使用步驟:1、試驗塵樣的采集應符合GB/T16913.1的規(guī)定。登記粉塵采樣工況...
  • 18

    2018-1

    四探針電阻率測試步驟流程

    四探針電阻率測試步驟流程半導體采用四探針法測試電阻率及電導率,他的性質(zhì)在一般情況下,半導體電導率隨溫度的升高而減小,這與金屬導體恰好相反。上述特征的材料都可歸入半導體材料的范圍。反映半導體材料內(nèi)在基本性質(zhì)的卻是各種外界因素如光、熱、磁、電等作用于半導體而引起的物理效應和現(xiàn)象,這些為半導體材料的半導體性質(zhì)。半導體材料分為元素半導體、無機化合物半導體、有機化合物半導體和非晶態(tài)與液態(tài)半導體。備制不同的半導體器件對半導體材料有不同的形態(tài)要求,包括單晶的切片、磨片、拋光片、薄膜等。半導...
  • 12

    2018-1

    方阻測量時探頭的關(guān)系

    方阻測量時探頭的關(guān)系方阻也稱為方塊電阻,指一個正方形的薄膜導電材料邊到邊間的電阻作為描述。涂層類,鍍膜類產(chǎn)品基本上都是通過測量方阻的形式來衡量樣品的厚度。方塊電阻有一個特性,即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的影響方阻的因素主要有以下幾個方面:探針與邊緣的距離;探針之間的等距離一般測量方阻的儀器有手持式和臺式兩種,這也是目前市場上比較常見的,手持式的FT-392手持式四探針測試儀;臺式的FT-331四探針方阻測試儀;手持式的精度一般都比臺式的低些,臺式的量程寬些,當然,精...
  • 11

    2018-1

    顆粒密度測試的相關(guān)知識了解

    顆粒密度是顆粒質(zhì)量除以不包括外孔在內(nèi)的顆粒體積,如果顆粒內(nèi)不存在閉孔,那么顆粒密度與真密度相等。顆粒密度通過介質(zhì)充填孔隙的方法測量求出,它和顆粒內(nèi)孔結(jié)構(gòu)和顆粒間孔結(jié)構(gòu)有關(guān),也和充填介質(zhì)有關(guān),因此測量求得的不是嚴格意義上的顆粒密度而是有效顆粒密度。測量方法分兩大類:1)充填液體的比重瓶法;2)充填氣體的容積法。氣體容積法又分定容積法,不定容積法與壓力比較法三種,壓力比較法較為常用。顆粒密度的測試:準備工作:1、改變液體媒介為酒精【參照溫度、溶液補償設(shè)定】,如:乙醇表面張力較低。...
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